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JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统

JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统

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JKZC-YDZK03N压电阻抗综合测试系统是一款多用途的综合测试系统,即可用于纵向压电D33测试,竖向D15,横向D31等性能测试,配置了高低温冷热台,进行变温测试,配置显微镜进行微观观测,也可以用于用于用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试,是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的*解决方案,可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性,正反谐振阻抗及压电

JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统的详细资料:

JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统

关键词:压电系数,阻抗,显微镜,高低温

JKZC-YDZK03N压电阻抗综合测试系统是一款多用途的综合测试系统,即可用于纵向压电D33测试,竖向D15,横向D31等性能测试,配置了高低温冷热台,进行变温测试,配置显微镜进行微观观测,也可以用于用于用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试,是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的*解决方案,可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性,正反谐振阻抗及压电材料的电容等相关系数,是研究压电材料和阻抗分析的综合设备,是科研的重要辅助设备。

一、产品应用范围:

1.压电材料器件科学研究

2.压电材料的用于评定压电陶瓷片性能优劣

3.压电材料阻抗分析

4.其他介质材料: 塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶单元:介电常数、弹性常数等C-V特性

5. 导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性; 晶体管或集成电路的寄生参数分析

二、主要技术参数:

频率:10HZ-30MHZ

测试电平:AC:AC电压:5mV - 2Vrms ,分辨率:1mV,DC:±40V,分辨率:1mV

测试参数:Cp/CsLp/LsRp/Rs|Z||Y|RXGB、θ、DQVacIacRdcVdcIdc

显微镜:630万像素,偏光观察模式

薄膜平台:30*30MM样品台,探针连接

×1挡:102000pC/N204000pC/N,可以升级到10000PC/N.

×0.1挡:1200pC/N2400pC/N

可以配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用

可以配套ZJ-D33-YP15压电压片机使用

误差:×1挡:±2%±1个数字,当d331004000pC/N

计量标定标准样尺寸:18mm*0.8mm,老化时间:2-3年(评判压电测试仪准确性能的重要依据之一)

提供压电薄膜标准片:20*20MM

电压保护:放电保护功能

±5%±1个数字,当d3310200pC/N

×0.1挡:±2%±1个数字,(d3310200pC/N)

±5%±1个数字,当d331020pC/N

分辨率:×1挡:1 pC/N;×0.1挡:0.1 pC/N

尺寸:施力装置:Φ110×140mm;仪器本体:240×200×80mm




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